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怎样检测通用变频器常用光耦驱动集成电路TLP251的好坏？

2017-02-16 14:12分类：电工基础知识 阅读：

　

(1) TLP251的内部电路。通用变频器常用光耦驱动集成电路TLP251的内部电路如下图所示，该集成电路采用双列8脚排列方式。当变频器的功率模块击穿时，往往也会使该集成电路损坏。

(2)检测方法。采用指针式万用表检测通用变频器常用光耦驱动集成电路TLP251好坏时的连接电路如下图所示。当断开与接通该检测电路中的电源开关SA1时，万用表会有OV或9V的高低电压指示。如果指示正常，说明被检测的TLP251良好，否则说明其不良或损坏。

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