根据CMOS加工工艺的APS图像感应器于上世纪九十年代初获得迅速发展趋势。CMOS光学镜头选用集成电路工艺集成电路设计的生产制造加工工艺，处理速度高，摆脱了 CCD的以上有关难题，与CCD 对比，具备处理速度高、功能损耗低、稳定性高、耐辐照度工作能力强等优势。

　　伴随着CMOS加工工艺的完善和工艺的持续发展趋势，APS图像感应器已经慢慢摆脱过去阳光照射敏感度、频率稳定度等领域的局限性，目前APS元器件在许多功能层面已同CCD势均力敌。

　　APS星比较敏感器是未来星比较敏感器的发展趋向。具备体型小、重量较轻、功能损耗低、高精度的特性，填补了国内现阶段主要的CCD星比较敏感器存有的体积重量大、功能损耗较高不够，是将来两年世界各国的发展趋向。

　　因为CMOS技术性技术及其数字功放像元的结构特点，APS图像感应器的原理、实际操作和载入方法、噪音类型等与CCD有很大差别，其在星比较敏感器等室内空间运用层面仍存在较多尚需探讨的难题，主要表现在其检测敏感度稍低。

　　因为APS图像感应器的清晰度內部集成化运算放大器，减少了填充因子，因而APS原有清晰度结构特点决策了其存有对比CCD的敏感度稍低难题。

　　敏感度是星比较敏感器关键指标值，表现其焦距内可以检测到最暗星的工作能力，是确保星比较敏感器作用、姿势输出精度和捕捉几率等技术指标的基本及前提条件。高灵敏APS电源电路是APS星比较敏感器中的核心技术，是建立高精密、高数据信息刷新率的主要确保。

　　危害APS星比较敏感器检测敏感度的要素

　　（1） 光学元件的危害。检测敏感度与光学设备透过率，光学元件直径，及其星点像光点动能集中化水平相关。因为设计方案一般规定F‘# = f/D一定，光学元件的直径的扩大，与此同时规定镜头焦距提高，这会提高系统软件的净重，而独立提升D 会给光学元件设计方案产生艰难，此项指标值受星比较敏感器总体方案设计和光学元件设计方案的限定。而星点像光点动能集中化水平尺寸受形心优化算法的限定，一般不可以超出0.5。

　　（2） APS 的主要参数多少的危害。APS 的量子效率和填充因子越高，APS 的数据信号电子数越多，敏感度越高。一般APS 的量子效率Qe 为0.3- 0.7，填充因子Km 为0.3- 0.7，也是有元器件得出的是量子效率和填充因子的积。除此之外，APS 噪音水准对敏感度的干扰很大，根据制冷APS 元器件、选用有关双取样技术性，和手机软件去噪（ 例如固定不动图象噪音等） 能够减少噪音。

　　（3） 情况辐射源对检测敏感度危害较小，当在信号分析中选用阀值解决时，能够把声音分贝滤除。

　　（4） 频率稳定度阀值的危害。频率稳定度阀值取的越大，检测比越高，但检测敏感度将降低。

　　（5） 積分時间。積分時间越长，敏感度越高。殊不知積分時间太长，会造成 系统升级速率的降低，并且会产生图象的托尾，减少图象形心的精密度而危害测量精度。

? ? ? ? ? ?我阅读推荐：

　　《什么是星敏感器，星敏感器的应用》

　　《星敏感器工作原理》

　　《星敏感器误差，星敏感器精度测量解析》

　　《国外星敏感器现状》

上一篇：国外星敏感器现状

下一篇：倾角传感器怎么用，倾角传感器安装方法