是什么原因会致使数据信号波型边缘的回沟？

数据信号传递流程中碰到特性阻抗不持续会发生反射面，反射面数据信号堆叠在工作中脉冲信号的上拉电阻或低电频非常容易造成过充或振铃，累加在波型的边缘则很容易造成回沟或阶梯。数字时钟数据信号的回沟不正确开启的风险性，一般数据信号的回沟则会减少数据信号的网络带宽。因而要防止回沟，压根上或是要确保数据信号感受到的途径特性阻抗的持续性。

（以下几点出自一部分网民解题）

发生回沟，最先想起的应该是特性阻抗不持续，存有基因突变点的难题。可能是网络拓扑结构错误操作，线接计划方案挑选不太好相关，但也无法忽视检测的要素，有些是测试用例的挑选，乃至是数字示波器取样速度的情况这些。

@杆

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特性阻抗没调节好进行回沟。ddr2颗粒物，也有ddr3颗粒物（最终那颗以外）最常用到

@皇甫

得分：三分

文章内容强调，测试用例与集成icDIE中间的布线特性阻抗不配对，造成反射面，造成 数据信号回沟。反射面信号在线上串来串去，与一切正常数据信号相逢时就勾引在一起，累加的地方确定了最后波型样子。1.因为集成ic里封裝布线较短，反射面的工作电压和效果時间小且短。相逢在脉冲信号转变 区段时，就累加到上升沿上产生回勾。2.当反射面功效时间长，累加的时候会拉高增益值点相对应的工作电压，从时间线上较为沒有这一反射面时的波型，仿佛数据信号提早抵达了。这一奇妙的情况在串扰产生时便会见到，因此串扰不容易对数据信号造成回勾。

@青山绿水江南地区

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数据信号波型边缘的回沟一般是反射面造成的，实际缘故包含特性阻抗不配对，有支系等。

@涌

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特性阻抗基因突变会造成，次之是测试用例选择不精确，此外便是先要清查开关电源是不是出现不简单

@moody

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数据信号回沟（即波型边沿的非单调性）发生的因素许多，有些是特性阻抗不持续，有些是切入点没有适合的地区，有些是网络拓扑结构的难题。或是别的，实际情况深入分析并依靠模拟仿真方式来剖析。

@龍鳳呈祥

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一楼说的改成0欧，是否会造成 降低沿过冲扩大，难题可能是出自于推动能力不足或是负荷过重造成 的，能够考虑到尾端线接试一下。
实际上回沟的形成关键就那样几类状况

1.串扰特殊状况造成回沟
2.stub难题，快速要考虑到
3.最普遍的也是原文中常说，测试用例没有全部互联网尾端（含多负荷状况）集成电路芯片布线一般会出现50到350ps的延迟
4.特性阻抗不搭配造成，会引起过冲和振铃，最普遍的状况便是回沟。
5.多负荷或链接太长，推动能力不足或负荷太重也会造成。
6.线接部位，错误操作都有可能造成 回沟。

重要看回沟的部位，即便 没有工作电压分辨幅值处，也会引起边缘時间增加，危害上升沿或降低沿的時间，进而危害网络带宽。

@明白

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ddr布线的网络拓扑结构决策线接部位。flyby方式在链接最结尾下拉，T型布线在第一个支系下拉配对。配对电阻器合乎路线特性阻抗等价，一般在3050欧姆中间。

@Ben

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1.没配对的反射面2.推动不足3.实例中fpga的ddr反射面，可能是有其它缘故

@血大少爷

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造成回勾的要素比较多吧，或是要剖析元器件的特性阻抗不持续的点，摄像头点在电源线上是数字示波器检测有回勾的一个缘故，模拟仿真有回勾，应该是封裝和pcb的点接触造成的，封裝内的连接线也是特性阻抗不持续的点。

@古都云

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特性阻抗不持续点都是有风险性，普遍的焊盘（尤其是机械设备孔）、磁珠、射频连接器、封裝等都是有很有可能。

@张彤彤

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应该是测试用例上感受到特性阻抗不持续造成的stub的反射面造成 的

@Alan

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40MTCXO輸出处串连了10pF，发生一模一样的回钩，改为0欧后处理。实质便是引起了失配，造成 反射面

@eletan

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全文文章标题：解题|数字时钟有回沟，还说没什么问题？！

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