半导体二三极管损坏的特征
半导体二三极管损坏的特征
二三极管损坏通常是PN结击穿或开路,其间最多的是击穿短路的较多,还有的是安稳性变差体现为开机时正常作业一段时刻后发作软击穿;还有的是PN特性变差用万用表R×1k测,各PN结均正常,但上机后不能正常作业。
丈量二三极管较精确的办法是,用万用表置R×10或R×1档(通常用R×10档,不显着时再用R×1档)在路丈量它们的PN结正方向电阻,假定正向电阻不太大,反向电阻满意大标明该PN结正常,反之则焊下后再测。由于通常电路的二三极管外围的电阻大多在几百、几千欧以上,用万用表低阻遏在路丈量,能够根柢疏忽外围电阻对PN结电阻的影响。
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