地脚螺栓形双向晶闸管的地脚螺栓一端为主导电级T2，偏细的引出线端为门极G，较粗的引出线端为主导电级T1。

　　金属封装（TO–3）双向晶闸管的机壳为主导电级T2。

　　塑封膜（TO–220）双重晶徊管的正中间脚位为主导电级T2，该极一般与内置小散热器相接。

　　2．辨别其优劣 用万能表R×1或R×10档精确测量双向晶闸管的主电级T1与主电级T2中间、主电级T2跟门极G中间的正、反方向阻值，一切正常时均应贴近无穷。若测出阻值均不大，则表明该可控硅电级间已穿透或短路短路故障。
　　精确测量主电级T1跟门极G中间的正、反方向阻值，一切正常时均应在几十欧母（Ω）至一百欧母（Ω）中间（黑电笔接T1极，红直流电流表接G极时，测出的正方向阻值较反方向阻值略小一些）。若测出T1极与G极中间的正、反处阻值均为无穷，则表明该可控硅已断路毁坏。

　　3．开启工作能力检验 针对工作中电流量为8A下列的小输出功率双向晶闸管，可以用数字万用表R×1档可以直接精确测量。精确测量时先将黑直流电流表接主电级T2，红直流电流表接主电级T1，随后用钳子将T2极跟门极G短路故障，给G极再加上正旋光性开启数据信号，若这时测出的阻值由无穷变成十几欧母（Ω），则表明该可控硅已被开启通断，通断方位为T2→T1。

　　再将黑直流电流表接主电级T1，红直流电流表接主电级T2，用钳子将T2极跟门极G中间短路故障，给G极再加上负级性开启数据信号时，测出的电阻应由无穷变成十几欧母，则表明该可控硅已被开启通断，通断方位为T1→T2。

　　若在可控硅被开启通断后断掉G极，T2、T1极间不可以保持低阻导通情况而电阻值变成无穷，则表明该双向晶闸管特性欠佳或早已毁坏。若给G极再加上正（或负）旋光性开启数据信号后，可控硅仍不通断（T1与T2间的正、反方向阻值仍为无穷），则表明该可控硅损坏，无开启通断工作能力。

　　针对工作中电流量以8A之上的中、功率大的双向晶闸管，在精确测量其开启工作能力时，可先在数字万用表的某股直流电流表上串连1~3节1.5V电池，随后再用R×1档按以上方式精确测量。

　　针对抗压为400V之上的双向晶闸管，还可以用220V交流电流来检测其开启工作能力及功能优劣。

　　将电源线插头连接电压后，双向晶闸管处在截至情况，电灯泡没亮（若这时电灯泡一切正常发亮，则表明被测可控硅的T1、T2极中间已穿透短路故障；若电灯泡灯闭，则表明被测可控硅走电毁坏）。按压一下按键S，为可控硅的门极G给予开启工作电压数据信号，一切正常时可控硅应该马上被开启通断，电灯泡一切正常发亮。若电灯泡不可以发亮，则表明被测可控硅內部引路毁坏。若按压按键S时电灯泡照亮，放手后电灯泡又灭掉，则说明被测可控硅的开启特性欠佳。

　　（三）门极关闭可控硅的检验

　　1．辨别各电级 门极关闭可控硅三个电级的分辨方式与一般可控硅同样，即用数字万用表的R×100档，找到具备二极管特性的两种电级，在其中一次为低电阻值（好几百欧母），另一次为电阻值很大。在电阻值小的那一次精确测量中，红直流电流表接的是负极K，黑电笔接的是门极G，剩余的一只脚位为阳极氧化A。

　　2．开启工作能力和关闭工作能力的检验 可关闭可控硅开启工作能力的检查办法与一般可控硅同样。检验门极关闭可控硅的关闭工作能力时，可先按检验开启工作能力的办法使可控硅处在通断情况，即用万能表R×1档，黑电笔接阳极氧化A，红直流电流表接负极K，测得阻值为无穷。再将A极跟门极G短路故障，给G极再加上顺向开启数据信号时，可控硅被开启通断，其A、K极间阻值由无穷变成低阻情况。断掉A极与G极的短路故障点后，可控硅保持低阻导通情况，表明其开启工作能力一切正常。再在可控硅的门极G与阳极氧化A中间再加上反方向开启数据信号，若这时A极与K极间阻值由低电阻值变成无穷，则表明可控硅的关闭工作能力一切正常，图8-21是关闭工作能力的检验平面图。

　　还可以用图8-22所显示电源电路来检验门极关闭可控硅的开启工作能力和关闭工作能力。电源电路中，EL为6.3V显示灯（小电珠），S为切换开关，VT为被测可控硅。当电源开关S关闭时，可控硅不通断，标示灯没亮。将电源开关S的K1接触点接入时，为G极再加上顺向开启数据信号，显示灯亮，表明可控硅已被开启通断。若将电源开关S断掉，显示灯保持发亮，则表明可控硅的开启工作能力一切正常。若将电源开关S的K2接触点接入，为G极再加上反方向开启数据信号，显示灯灭掉，则表明可控硅的关闭工作能力一切正常。

　　（四）温度控制可控硅的检验

　　1．辨别各电级 温度控制可控硅的构造与一般可控硅类似，因而还可以用辨别一般可控硅电级的办法来找到温度控制可控硅的电级。

　　2．特性检验 温度控制可控硅的优劣还可以用数字万用表大概测出去，具体做法可参照一般可控硅的检查方式。

　　图8-23是温度控制可控硅的检测电源电路。电源电路中，R是分离电阻器，用于设置可控硅VT的电源开关溫度，其电阻越小，电源开关溫度设定值就越高。C为抗干扰性电容器，可避免 可控硅VT误开启。HL为6.3V显示灯（小电珠），S为电源总开关。

　　接入电源总开关S后，可控硅VT不通断，显示灯HL没亮。用吹风机“暖风档”给可控硅VT升温，当其溫度超过设置溫度值时，显示灯亮，表明可控硅VT已被开启通断。若再用吹风机“冷气”档给可控硅VT减温（或待其当然制冷）至一定溫度值时，显示灯能灭掉，则表明该可控硅特性优良。若接入电源总开关后显示灯即亮或给可控硅升温后标示灯没亮、或给可控硅减温后显示灯不灭掉，则是被测可控硅穿透毁坏或功能欠佳。
（五）光控开关可控硅的检验

　　用万能表检验小输出功率光控开关可控硅时，可将万用电表放置R×1档，在黑直流电流表上串连1~3节1.5V电池，精确测量两管脚相互之间的正、反方向阻值，一切正常时均应是无穷。随后再用小手电或激光灯直射光控开关可控硅的光照对话框，这时应能测到一个较小的正方向阻值，但反方向阻值仍为无穷。在较小阻值的一次精确测量中，复转有笔接的是阳极氧化A，红直流电流表接的是负极K。
　
　　也可以用图8-24中电源电路对光控开关可控硅开展精确测量。按通电源总开关S，用手电直射可控硅VT的光照对话框、为其再加上开启灯源（功率大的光控开关可控硅内置灯源，只需将其光缆电缆中的发光二极管或半导体材料激光发生器再加上工作标准电压就可以，无需另加灯源）后，显示灯EL应照亮，撤出灯源后显示灯EL应保持发亮。

　　若接入电源总开关S后（并未加灯源），显示灯EL即照亮，则表明被测可控硅已穿透短路故障。若接入电源总开关、并再加上开启灯源后，显示灯EL仍没亮，在被测可控硅电级联接合理的情形下，则是该可控硅內部毁坏。若再加上开启灯源后，显示灯发亮，但撤销灯源后显示灯即灭掉，则表明该可控硅开启特性欠佳。

　　（六）BTG可控硅的检验

　　1．辨别各电级 依据BTG可控硅的内部构造得知，其阻极A、负极K中间和门极G、负极K中间均含有有好几个正、反方向串连有PN结，而阳极氧化A跟门极G中间却只有一个PN结。因而，只需用数字万用表测到A极和G极就可以。

　　将万用电表放置R×1k档，两直流电流表任接被测可控硅的某2个脚位（测其正、反方向阻值），若测到某对脚位为低电阻值时，则黑电笔接的阳极氧化A，而红直流电流表接的是门极G，此外一个脚位就是负极K。

　　2．分辨其优劣 用万能表R×1k档精确测量BTG可控硅各电级中间的正、反方向阻值。一切正常时，阳极氧化A与负极K中间的正、反方向电阻器均为无穷；阳极氧化A跟门极G中间的正方向阻值（指黑直流电流表接A极时）为好几百欧母至好几千欧母，反方向阻值为无穷。若测出某两方面中间的正、反方向阻值均不大，则表明该可控硅已短路故障毁坏。

　　3．开启工作能力检验 将万用电表放置R×1档，黑电笔接阳极氧化A，红直流电流表接负极K，测得电阻值应当为无穷。随后用手指触碰门极G，给其加一个人体感应数据信号，若这时A、K中间的阻值由无穷变成低电阻值（数欧母），则表明可控硅的开启工作能力优良。不然表明此可控硅的特性欠佳。

　　（七）逆导可控硅的检验

　　1．辨别各电级 依据逆导可控硅内部构造得知，在阳极氧化A与负极K中间并连有一只二极管（正级接K极），而门极G与负极K中间有一个PN结，阳极氧化A跟门极相互间有好几个反方向串连有PN结。

　　用万能表R×100档精确测量各电级中间的正反面向阻值时，会发发有一个电级与此外2个金属电极中间正、反方向精确测量时均会有一个低电阻值，这一电级便是负极K。将黑电笔接负极K，红直流电流表先后去碰触此外2个电级，表明为低电阻值的一次精确测量中，红直流电流表接的是阳极氧化A。再将红直流电流表接负极K，黑直流电流表先后碰触此外两电级，表明低电阻值的一次精确测量中，黑电笔接的就是门极G。

　　2．精确测量其优劣 用万能表R×100或R×1k档精确测量反指导通可控硅的阳极氧化A与负极K中间的正、反方向阻值，一切正常时，正方向阻值（黑电笔接A极）为无穷，反方向阻值为好几百欧母至好几千欧母（用R×1k档精确测量为7kΩ上下，用R×100档精确测量为900Ω上下）。若正、反方向阻值均为无穷，则表明可控硅內部并接的二极管已断路毁坏。若正反面向阻值为不大，则是可控硅短路故障毁坏。

　　一切正常时反指导通可控硅的阳极氧化A跟门极G中间的正、反方向阻值均为无穷。若测出A、G极中间的正、反方向阻值均不大，则表明可控硅的A、G极中间穿透短路故障。

　　一切正常时反指导通可控硅的门极G与负极K中间的正方向阻值（黑电笔接G极）为好几百欧母至好几千欧母，反方向阻值为无穷。若测出其正、反方向阻值均为无穷或均不大，则表明该可控硅G、K极间已引路或短路故障毁坏。

　　3．开启工作能力检验 反指导通可控硅的开启工作能力的检查办法与一般可控硅同样。用万能表R×1档，黑电笔接阳极氧化A，红直流电流表接负极K（功率大的可控硅应在黑直流电流表或红直流电流表上串连1~3节1.5V电池）,将A、G极间一瞬间短路故障，可控硅即能被开启通断，数字万用表上的读值会由无穷变成低电阻值。若不可以由无穷变成低电阻值，则表明被测可控硅的开启工作能力欠佳。

　　（八）四端可控硅的检验

　　1．辨别各电级 四端可控硅多选用金属材料壳封裝，图8-25是其引脚排序底主视图。从管键（列管式上的突起处）逐渐看，顺时针先后为负极K，负极门极GK、阳极氧化门极GA、阳极氧化A。

　　2．分辨其优劣 用万能表R×1k档，各自精确测量四端可控硅各电级中间的正、反阻值。一切正常时，阳极氧化A与阳极氧化门极GA中间的正方向阻值（黑电笔接A极）为无穷，反方向阻值为4~12kΩ；阳极氧化门极GA与负极门极GK中间的正方向阻值（黑电笔接GA）为无穷，反方向阻值为2~10 kΩ；负极K与负极操纵极GK中间的正方向阻值（黑电笔接K）为无穷，反方向阻值为4~12 kΩ。

　　若测出某两方面中间的正、反方向阻值均较小或均为无穷，则表明该可控硅內部断路或引路。

　　3．开启工作能力检验 用万能表R×1k档，黑电笔接随时极A，红直流电流表接负极K，这时阻值为无穷。若将K极与阳极氧化门极GA一瞬间短路故障、给GA极加之负开启单脉冲工作电压时，A、K极间阻值由无穷快速变成低电阻值，则表明该可控硅GA极的开启工作能力优良。
　
　　断掉黑直流电流表后，再将其与阳极氧化A联接好，红直流电流表仍接负极K，数字万用表表明电阻值为无穷。若将A极与GK极一瞬间短路故障，给GK极再加上顺向开启工作电压时，可控硅A、K极中间的阻值由无穷变成低电阻值，则可判别该可控硅GK极的开启工作能力优良。

　　若将K、GA极或A、GA极短路故障时，A、K极中间的阻值极仍为无穷，则表明该可控硅內部引路毁坏或功能欠佳。

　　4．关闭特性检验 在四端可控硅被开启通断模式时，若将阳极氧化A与阳极氧化门极GA或负极K与负极门极GK一瞬间短路故障，A、K极中间的阻值由低电阻值变成无穷，则表明被测可控硅的关闭特性优良。