电子产品中逻辑性信号分析頻率越高，数据信号所需要的上升沿越险峻。针对半导体材料检测设备而言，波型质量尤其关键。在精确测量被测元器件(DUT)的环节中，检测数据信号根据一些汽车继电器抵达DUT，但在抵达前数据信号会衰减系数。 TLP3375和TLP3275将主要放到高频率讯号的根据特点上，等效电路增益值(ERT)各自大幅度改善至40 ps 和 60 ps。除此之外，TLP3375 採用新研发的袖珍型USOP封装，援助密度高的封裝。

　　特征

　　优秀的高频率根据特点

　　运用

　　半导体材料检测设备

　　测量设备

　　轮廓图

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