JTAG（Joint Test Action Group）接口定义图是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。它由IEEE标准1149.1定义，是一种串行接口，用于在芯片上进行测试、调试和编程。JTAG接口定义图在现代电子设备中广泛应用，包括计算机、手机、路由器等。

JTAG接口定义图由四个主要部分组成：测试访问端口（TAP）、测试数据寄存器（TDR）、测试状态寄存器（TSR）和测试模式寄存器（TMR）。TAP是JTAG接口定义图的核心部分，它负责与目标芯片进行通信，并控制测试和调试操作。TDR用于传输测试数据，TSR用于存储测试状态，TMR用于存储测试模式。

JTAG接口定义图的工作原理是通过在芯片上插入一条或多条测试信号线来实现的。这些信号线包括TCK（测试时钟）、TMS（测试模式选择）、TDI（测试数据输入）和TDO（测试数据输出）。TCK用于控制测试时钟的频率，TMS用于选择测试模式，TDI用于输入测试数据，TDO用于输出测试数据。

JTAG接口定义图还支持多种测试模式，包括测试模式、编程模式和调试模式。测试模式用于测试芯片的功能和性能，编程模式用于对芯片进行编程，调试模式用于调试和分析芯片的运行状态。通过选择不同的测试模式，可以实现对芯片的全面测试和调试。

JTAG接口定义图还具有一些重要的特性。它是一种非侵入式测试方法，不需要修改芯片的设计和布局。它可以同时测试多个芯片，提高测试效率。它支持远程测试和调试，可以在远程地点对芯片进行测试和调试。

JTAG接口定义图是一种重要的测试和调试接口，广泛应用于现代电子设备中。它通过定义一套标准的接口和信号线，实现了对芯片的全面测试和调试。JTAG接口定义图的设计和应用对于提高电子设备的质量和可靠性具有重要意义。

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