怎样采用开路测电阻值的方法判断开关电源厚膜集成电路的好坏?

2017-02-24 21:21分类：电子元器件阅读：

判断厚膜集成块的好坏，最直观、简捷、可靠的方法是非在路测阻法——直接测量法（或叫开路测量法）。由于这种测量方法排除了外围电路的影响，免除了在路测量的局限性。因此，这种方法通用性很强，不受机型和电路的限制，型号相同的集成块均可采用。

不过，测阻法（在路或开路）一般是在预先知道所测厚膜块正常数据下进行的，这就要求维修人员和爱好者在日常的维修中，应随时随地及时将测得的数据做一些记录。日积月累，对今后的维修将会带来很大的好处。

需要说明的是判断厚膜集成块的好坏，一般可通过测其各引脚在路与开路电阻值综合的方法来进行鉴别，只要所测得的数据与典型值相差不大，就可判定该集成电路是好的。但需注意以下4点。

(1)误差方面

由于测试时使用的万用表型号不同，电阻挡量程不同，故测得的数据可能会有一些差异，只要误差不超过±10%就可认为测试有效。

(2)测正反向电阻值

用万用表测量厚膜集成电阻值时，一般应作正、反两次测量，以便能更全面了解被测引脚之间的故障情况。

(3)选合适量程

测量时应注意选择合适的量程，一般选“Rxl k”挡为宜，对于电阻值较小者应选用“Rxl00”挡，测量前要随时校零。如用“Rxl00”挡测量时，测量之后还要检查零点是否对，若将表笔短接后表针不能复零，则测得的数值是错误的。

(4)开关电源厚膜集成电路部分开路电阻值

部分开关电源厚膜集成电路开路电阻值如表9-9～表9-72所列，供测量对照时对比参考。

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