（1）丈量电压散布。通常1～3年进行一次，绝缘子串在正常和有缺点状况下，电压散布纷歧样，有缺点的绝缘子较正常的电压要小，其电压搬运到绝缘正常的元件上，能够经过丈量电压散布断定其绝缘功用。
　　（2）绝缘电阻实验。悬式绝缘子每1～3年一次，用5000V兆欧表测每片绝缘子其阻值不小于300MΩ。
　　（3）高频耐压实验每1～3年一次。

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