1．恒差体系差错的断定

　　（1）试验比对

　　关于不随时刻改动的恒差型体系差错，一般能够选用经过试验比对的办法发现和断定。试验比对的办法又可分为规范器材法（简称规范件法）和规范仪器法（简称规范表法）两种。以电阻丈量为例，规范件法便是查看仪器对高精度精细规范电阻器（其值作为约好真值）进行重复屡次丈量，丈量值与规范电阻器的阻值的差值巨细均安稳不变，该差值即可作为此查看仪器在该示值点的体系差错值。其相反数，即为此丈量点的批改值。而规范表法便是把精度等级高于被检定仪器两档以上的同类高精度仪器作为近似没有差错的规范表，与被检定查看仪器一同、或顺次对被测方针（本例为在被检定查看仪器丈量方案内的电阻器）进行重复丈量，把规范标明值视为相对真值，假设被检定查看仪器示值与规范标明值之差巨细安稳不变，就可将该差值作为此查看仪器在该示值点的体系差错，该差值的相反数即为此查看仪器在此点的批改值。

　　当不能取得高精度的规范件或规范仪器时，可用多台同类或相似仪器进行重复丈量、比对，把多台仪器重复丈量的均匀值近似作为相对真值，细心查询和剖析丈量效果，亦可大略地发现和断定被检仪器的体系差错。此办法只能差异被检仪器个别与别的团体间存在体系差错的状况。

　　（2）原理剖析与理论核算

　　对一些因改换原理、查看办法或方案制作方面存在短少而发作的恒差型体系差错，可经过原理剖析与理论核算来加以批改。这类“短少”，常常体现为在传感器改换进程中存在零位差错，传感器输出信号与被测参量间存在非线性，传感器内阻大而信号调度电路输入阻抗不行高，或是信号处理时选用的是省略高次项的近似阅历公式，或是选用经简化的电路模型等。对此需求关于性地细心研讨和核算、评价实习值与抱负（或理论）值之间的安稳差错，然后设法校对、抵偿和消除。

　　（3）改动外界丈量条件

　　有些查看系一同旦作业环境条件或被测参量数值发作改动，其丈量体系差错一般也从一个固定值改动成另一个断定值。对这类查看体系需求经过逐一改动外界丈量条件，来发现和断定仪器在其容许的不一样工况条件下的体系差错。

　　2．变差体系差错的断定

　　变差体系差错是指按某种断定规矩改动的丈量体系差错。对此可选用残差查询法或运用某些差异原则来发现，并断定是不是存在变差体系差错。

　　（1）残差查询法

　　当体系差错比随机差错大时，经过查询和剖析丈量数据及各丈量值与悉数丈量数据算术均匀值之差，即剩下差错（也叫残差），常常能发现该差错是不是为按某种规矩改动的变差体系差错。一般的做法是把一系列等精度重复丈量值及其残差按丈量时的先后次第别离列表，细心查询和剖析各丈量数据残差值的巨细和符号的改动状况，假设发现残差序列呈有规矩递加或递减，且残差序列减去其间值后的新数列在以中值为原点的数轴上呈正负对称散布，则阐明丈量存在累进性的线性体系差错；假设发现差错序列呈有规矩替换重复改动，则阐明丈量存在周期性体系差错。

　　当体系差错比随机差错小时，就不能经过查询来发现体系差错，只能经过专门的差异原则才干较好地发现和断定。这些差异原则本质上是查验差错的散布是不是违横竖态散布，常用的有马利科夫原则和阿贝-赫梅特原则等。

　　（2）马利科夫原则

　　马利科夫原则适用于差异、发现和断定线性体系差错。此原则的实习操作办法是将在同一条件下次第重复丈量得到的一组丈量值X1、X2、…、Xn次第摆放，并求出它们相应的残差v1、v2、…，vi、…、vn。

　　　　　　　　　（1）

　　式中，Xi为第i次丈量值；n为丈量次数；为悉数n次丈量值的算术均匀值，简称丈量均值；vi为第i次丈量的残差。

　　将这些残差序列以基地值vk为界分为前后两组，别离求和，然后把两组残差和相减，即

　　　　　　　　　　　　　　　（2）

　　当n为偶数时，取；当n为奇数时，取。

　　若D近似等于零，阐明丈量中不含线性体系差错；若D显着不为零（且大于vi），则标明这组丈量中存在线性体系差错。

　　（3）阿贝-赫梅特原则

　　阿贝-赫梅特原则适用于差异、发现和断定周期性体系差错。此原则的实习操作办法也是将在同一条件下重复丈量得到的一组丈量值X1、X2、…、Xn按序摆放，并依据（1）式求出它们相应的残差v1、v2、…、vn，然后核算

　　 　（3）

　　假设（3）式中A>树立（σ2为本丈量数据序列的方差），则标明丈量值中存在周期性体系差错。

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