IC无损检测技术

（一）常见的检查方式
　　集成电路芯片常见的检查办法有自动测量法、非自动测量法和代用法。

　　1．非自动测量 非自动测量潮在集成电路芯片未焊入电源电路时,根据检测其各管脚相互之间的电阻值与已经知道一切正常同样集成电路芯片各管脚相互之间的电阻值完成比照,以明确其能否一切正常。

　　2．自动测量 自动测量法是使用电流测量方法、电阻器测量方法及电流量测量方法等,根据在线路上精确测量集成电路芯片的各脚位工作电压值、阻值和电流是不是一切正常,来判定该集成电路芯片是不是毁坏。

　　3．代用法 代用法是用已经知道完好无损的同样型号、同尺寸集成电路芯片来代替被测集成电路芯片,能够判定出该集成电路芯片是不是毁坏。

（二）常见集成电路芯片的检验

　　1．微控制器集成电路芯片的检验 微控制器集成电路芯片的重要检测脚位是VDD开关电源端、RESET校准端、XIN晶振电路数据信号键入端、XOUT晶振电路数据信号输入输出端以及他各线键入、輸出端。

　　在路精确测量这种重要脚对地的阻值和电流值,看能否与标准值（可从商品原理图或相关检修材料中查出来）同样。

　　不一样型号规格微控制器的RESET校准工作电压都不同样,有些是低电频校准,即在启动一瞬间为低电频,校准后保持上拉电阻;有些是上拉电阻校准,即在电源开关一瞬间为上拉电阻,校准后保持低电频。

　　2．开关电源电路集成电路芯片的检验 开关电源电路集成电路芯片的重要脚工作电压是开关电源端（VCC）、鼓励单脉冲輸出端、工作电压检验键入端、电流量检验键入端。精确测量各管脚对地的电流值和阻值,若与标准值相距很大,在其外场电子器件一切正常的情形下,能够明确是该集成电路芯片损坏。 内嵌功率大的开关管的厚膜集成电路芯片,还可根据精确测量开关管C、B、E极中间的正、反方向阻值,来分辨开关管是不是一切正常。

　　3．音频功放集成电路芯片的检验 查验音频功放集成电路芯片时,先要检验其开关电源端（正开关电源端和负开关电源端）、音频输入端、音频输出端及意见反馈端对地的电流值和阻值。若测出各针脚的信息值与标准值相距很大,其外场元器件与一切正常,则是该集成电路芯片內部毁坏。

　　对造成无音常见故障的音频功放集成电路芯片,精确测量其电源电压一切正常时,可以用信号干扰法来查验。精确测量时,数字万用表应放置R×1档,将红直流电流表接地装置,用黑直流电流表点触音频输入端,一切正常时音箱中应该有很强的“喀喀”声。

　　4．运放电路集成电路芯片的检验 用数字万用表交流电压档,精确测量运放电路輸出端与负开关电源端中间的电流值（在静态数据时工作电压值较高）。用手执金属材料医用镊子先后点触运放电路的2个键入端（添加电磁干扰）,若数字万用表表杆有较急剧的晃动,则表明该运放电路完好无损;若数字万用表表杆没动,则表明运放电路损坏。

　　5．时基集成电路芯片的检验 时基集成电路芯片含有数字电路设计和数字集成电路,用数字万用表难以立即测到其优劣。可以用如图所示9-13所显示的检测电源电路来检验时基集成电路芯片的优劣。检测电源电路由阻容元器件、发光二极管LED、6V直流稳压电源、电源总开关S和8脚IC电源插座构成。将时基集成电路芯片（比如NE555）插信IC电源插座后,按住电源总开关S,若被比测基集成电路芯片一切正常,则发光二极管LED将闪动发亮;若LED没亮或一直亮,则表明被比测基集成电路芯片特性欠佳。

上一篇：关于集成电路知识产权条约

下一篇：SMT-PCB的设计原则